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美國FSM 薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備：在襯底鍍上不同的薄膜后, 因?yàn)閮烧卟馁|(zhì)不一樣，以及不同的材料不同溫度下特性不一樣, 所以會(huì)引起應(yīng)力。 如應(yīng)力太大會(huì)引起薄膜脫落, 引致組件失效或可靠性不佳的問題。 薄膜應(yīng)力激光測(cè)量儀利用激光測(cè)量樣本的形貌,透過比較鍍膜前后襯底曲率半徑的變化, 以Stoney’s Equation計(jì)算出應(yīng)力, 是品檢及改進(jìn)工藝的有/效手段。
更新時(shí)間：2024-11-09
型號(hào)：FSM 128
廠商性質(zhì)：代理商
瀏覽量：6692
美國FSM 高溫薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備：美國FSM成立于1988年，總部位于圣何塞，多年來為半導(dǎo)體行業(yè)等高新行業(yè)提供各式精密的測(cè)量設(shè)備。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：FSM 500TC廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：6149